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熱門(mén)關(guān)鍵詞：碳硫分析儀 顯微鏡 硬度計(jì) 氧氮?dú)浞治鰞x 光譜儀 試驗(yàn)機(jī)
AFM作為一種掃描探針顯微鏡(SPM : Scanning Probe Microscope),使用前端直徑為數(shù)納米(1納米：百萬(wàn)分之一毫米)的尖銳探針掃描樣品表面，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別的樣品表面的形貌觀察和物性映射評(píng)估。AFM已廣泛應(yīng)用于電池材料、半導(dǎo)體、高分子、生物材料等各個(gè)領(lǐng)域的科學(xué)研究開(kāi)發(fā)和質(zhì)量管理。AFM100/100Plus，非專業(yè)人員都能輕松且穩(wěn)定地獲取可靠數(shù)據(jù)，從而完成從科學(xué)研究用途到質(zhì)量管理中的日常作業(yè)。特別是AFM100 Plus，其用途十分廣泛，可用于從觀察石墨烯和碳納米纖維等納米材料
掃描探針顯微鏡AFM5500MⅡ配置寬范圍平板掃描器，降低了機(jī)械原因造成的測(cè)量誤差。自動(dòng)懸臂更換等自動(dòng)化功能有助于提升品質(zhì)管理，提高測(cè)試效率。單使用AFM5500MⅡ測(cè)試可以得到形貌和物理測(cè)量結(jié)果，再利用與SEM/CSI等其他顯微鏡的共享坐標(biāo)樣品臺(tái)功能，可以實(shí)現(xiàn)高精度的故障解析與缺陷評(píng)價(jià)。此外，由于新增了AFM標(biāo)記功能，多臺(tái)設(shè)備可以輕松測(cè)量樣品的同一位置。HITACHI日立全自動(dòng)掃描探針顯微鏡AFM5500MⅡ規(guī)格：型號(hào)AFM5500M尺寸?重量裝置外觀尺寸?重量※1750 mm(W) x 877 mm(
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標(biāo)用戶界面，標(biāo)準(zhǔn)配備參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時(shí)，也能快速獲得準(zhǔn)確的測(cè)量數(shù)據(jù)。1. RealTune® II的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能有的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能！RealTune® II可預(yù)測(cè)并調(diào)整懸臂的振動(dòng)振幅、動(dòng)作頻率等主要參數(shù)，可以根據(jù)樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況，率、高精度地調(diào)整成合適的測(cè)量條件。通過(guò)新增加的參數(shù)自動(dòng)設(shè)置功能（RealTun
