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　　微力學測試與組裝系統(tǒng)FT-MTA03FT-MTA03集納米壓痕儀、微拉力儀、輪廓儀和通用微觀結構分析儀的功能于一體，其測力范圍為200mN，力學分辨率可達0.5nN（9個數(shù)量級），可在三軸方向測量0.1nm至29mm的位移（8個數(shù)量級）。FT-MTA03配置高分辨率顯微鏡，具有95mm的極高工作距離，可在樣品上方180旋轉。配備3百萬像素CMOS USB相機，可選擇同軸透鏡照明、環(huán)形光和漫射背光三種可調LED照明原理。FT-MTA03輕巧便捷，尺寸僅有44x39x46（cm），適用于水平測試，垂直測試或從

　　FT-NMT04納米力學性能測試系統(tǒng)是一款可在SEM/FIB中對微納米材料和結構的力學性能進行原位、直接而準確測量的納米機器人系統(tǒng)。測試原理是通過微力傳感探針對微納結構施加可控的力,同時采用位移記錄器來測量該結構的形變。從測得的力和形變(應力-應變)曲線可以定量地分析微納米結構的力學性能。通過控制加載力的大小和方向,可實現(xiàn)拉伸、壓縮、斷裂、疲勞和蠕變等各種力學測試。同時,其配備的導電樣品測試平臺可以對微納米結構的電學和力學性能進行同步測試。絕大多數(shù)的納米力學測試都需要復雜的樣品制備過程。為了使樣品制備簡單

　　IIT-200 儀器化壓入試驗機（壓痕儀）用于測量材料在壓頭的壓力作用下，壓入載荷和壓入深度的曲線，如下1.龍門結構機架，采用龍門架構，大幅提高剛性；2.使用力范圍大，精度高；3.壓頭下移速度可設定；4.位移分辨率高，達到0.1微米；5.壓頭可多樣化，按用戶要求定制；6.加、卸載控制方式可按用戶定制。儀器化壓入試驗機IIT-200壓痕儀主要技術參數(shù)：1.試驗力范圍：3-200公斤；2.力值誤差：小于1%；3.壓頭行程：不小于5毫米；4.壓頭下移速度范圍：0.001-0.1mm/S5.位移分辨率：0.1微米

　　FEMTOTOOLS納米壓痕儀|FT-I04納米壓痕儀簡介：FT-I04納米壓痕儀是一種高分辨率的納米力學測試系統(tǒng)，能夠在微尺度和納米尺度上準確量化材料的機械和摩擦學特性。作為基于MEMS的納米壓頭，F(xiàn)T-I04使用FemtoTools微機電系統(tǒng)（MEMS）技術。利用二十多年的技術，該納米壓痕儀具有良好的分辨率，可重復性和動態(tài)穩(wěn)定性。FT-I04毫微微壓痕儀針對金屬，陶瓷，薄膜和涂層以及更順應的微觀結構例如超材料。此外，F(xiàn)T-I04是模塊化的，可以擴展其功能，以適應各個研究領域的多功能需求。典型的應用包括