X 射線熒光光譜儀 (XRF) 在礦業(yè)和礦產(chǎn)業(yè)發(fā)揮著重要且成熟的分析作用。 廣泛用于勘探、等級控制和工藝監(jiān)控,尋求廢棄物組成符合環(huán)境標準和法規(guī)的范圍內(nèi)。在采礦作業(yè)中利用 Epsilon 4 臺式光譜儀,即使在偏遠地區(qū)也可對礦石、礦物和巖石進行快速的元素分析。 將基礎(chǔ)設(shè)施的低需求和高分析性能相結(jié)合,使得在公用設(shè)施有限的采礦地點能夠快速確定操作策略。通過將臺式 XRF 光譜儀放置在礦場或加工廠旁邊,探索 XRF 分析的可能性,并將您的反饋時間從幾小時縮短到幾分鐘。Epsilon 4礦業(yè)和礦產(chǎn)臺式X射線熒光光譜
安捷倫氣體雜質(zhì)測定氣相色譜分析儀示例:(1)、大宗氣體雜質(zhì)分析儀以大宗形式出售的工業(yè)氣體用于食品、制藥、化學品、半導體等應用領(lǐng)域。這些氣體大部分有不同的來源,因而會產(chǎn)生多種可能的污染物。了解存在的雜質(zhì)類型及濃度對過程至關(guān)重要。特性:按照安捷倫質(zhì)量標準進行預配置和化學測試,尋求實現(xiàn)工業(yè)氣體組成和雜質(zhì)含量分析的佳性能。大宗氣體分析儀包括色譜柱、消耗品、校準/校驗標樣和分析方法,可縮短分析人員在配置各組件時所花費的時間。包括用于特定分析的優(yōu)保留時間鎖定采集方法、應用簡報和更快速方法快速入門指南的 CD-ROM。