LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀

所屬系列：ZJYQ-GUYQOPA-NCS

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產(chǎn)品描述

激光光譜原位分析儀(LIBSOPA-200)是激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析技術(shù)（LIBS）和原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)（OPA）結(jié)合的分析儀器。激光誘導(dǎo)擊穿光譜原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)(LIBSOPA)通過高能激光聚焦于樣品表面，樣品被擊穿形成高溫等離子體，通過檢測(cè)等離子體光譜信號(hào)，獲得樣品的成分及元素分布信息的技術(shù)。

LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀分析原理：

樣品表面被高能激光擊穿形成等離子體，等離子體光線經(jīng)過濾波,分光之后被多通道的光電倍增管檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)。根據(jù)光譜特征譜線波長(zhǎng)得出被擊穿位點(diǎn)的元素種類;定標(biāo)后對(duì)應(yīng)譜線的強(qiáng)度表示被擊穿位點(diǎn)元素的濃度。借助精密三維移動(dòng)平臺(tái)在樣品激發(fā)表面很好的定位和記錄，實(shí)現(xiàn)任意點(diǎn)掃描，一維線性掃描，一維深度分析和二維面掃描分析，并據(jù)此獲得與材料原位置相對(duì)應(yīng)的各元素原始含量及狀態(tài)信息，可以用統(tǒng)計(jì)解析的方法定量表征材料的偏析度、疏松度等信息。該方法不但有激光光譜的非接觸分析、微區(qū)分析、深度分析的優(yōu)點(diǎn)，又具備原位統(tǒng)計(jì)分布分析技術(shù)的原位性和統(tǒng)計(jì)性。LIBSOPA-200的研制成功為材料成分分析、缺陷分析、涂鍍層等樣品的分析應(yīng)用提供了新的技術(shù)手段及質(zhì)量判據(jù)。

LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀儀器特點(diǎn)：

1. LIBS技術(shù)與OPA技術(shù)結(jié)合的分析儀器。
2. 多元素同時(shí)分析。28個(gè)元素通道，包含C,P,S元素，線性關(guān)系良好；
3. 預(yù)剝蝕時(shí)間，積分時(shí)間，門控延遲時(shí)間動(dòng)態(tài)可調(diào)。
4. 分析簡(jiǎn)便、快速，無前處理過程，避免樣品被污染；
5. 分析不受樣品尺寸，狀態(tài)，導(dǎo)電性，難熔與否的影響；
6. LIBS具有高靈敏度與高空間分辨率，非常適合涂層材料、薄膜材料分析；
7. 微小燒蝕光斑可進(jìn)行局部微區(qū)分析，表面微損分析，適合材料缺陷分析；
8. 非接觸測(cè)量，響應(yīng)迅速，分析時(shí)間短，可滿足實(shí)時(shí)分析以及在線分析的要求。

LIBSOPA 200激光光譜原位分析儀主要技術(shù)參數(shù)：

真空光學(xué)系統(tǒng)：巴邢—龍格架法
光柵焦距 750 mm
刻線 2400條/mm
譜線范圍 170 ~ 800 nm
分辨率優(yōu)于0.01 nm
電源 220V/20A
尺寸寬×深×高（155 cm×75 cm×160cm）
重量毛重約700 Kg

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