■：標(biāo)配 □：選配

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Desktop

圖像采集

基本圖像采集，包括HDR、放大倍率的自動(dòng)校準(zhǔn)、實(shí)時(shí)HDR*1和位置導(dǎo)航*1。

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軟件自動(dòng)對焦*2和視頻采集（Avi格式）

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延時(shí)攝影、即時(shí)EFI和即時(shí)/手動(dòng)MIA*3

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電動(dòng)EFI/MIA和Z軸堆棧采集

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圖像和定制工具

基本工具窗口（圖像歷史、屬性、導(dǎo)航器、畫廊視圖工具窗口）*4

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注釋、層管理、刻度條、十字標(biāo)、信息印記顯示和圖像過濾器

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數(shù)字標(biāo)線/網(wǎng)格、線型輪廓顯示、我的功能、布局管理和宏管理器

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測量/圖像分析

基本交互式測量（距離、角度、矩形、圓形、橢圓形、多邊形、圓到圓的距離、角尺和直尺），且數(shù)據(jù)可導(dǎo)出到MS-Excel文件中

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相分析、魔杖、手繪折線、插值多邊形、形態(tài)過濾器和圖像算術(shù)

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3D測量、3D輪廓測量和3D表面視圖

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報(bào)告制作*5

報(bào)告創(chuàng)建（MS-Word和MS-Excel格式）

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演示文稿創(chuàng)建

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數(shù)據(jù)管理

Stream文檔存儲(chǔ)*6

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采用結(jié)構(gòu)數(shù)據(jù)格式的工作組數(shù)據(jù)庫

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設(shè)備支持

奧林巴斯顯微鏡*7和奧林巴斯攝像頭*8

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非奧林巴斯的攝像頭和圖像源轉(zhuǎn)換器*9

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非奧林巴斯的載物臺(tái)控制器*9

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PC機(jī)要求

CPU（中央處理器）

Intel® Core i5、Intel® core i7、Intel® Xeon

內(nèi)存/硬盤/DVD驅(qū)動(dòng)器

4 GB或更大（推薦8 GB）/ 2.4 GB或更大可用空間 / 兼容DVD+R DL

OS*10

Windows 10 Pro（64位）、Windows 8.1（64位）Pro

.NET框架

4.6.2版本或更高版本

顯卡*11

1280 × 1024顯示器分辨率，使用32位顯卡

網(wǎng)絡(luò)瀏覽器

Windows Internet Explorer 8、9、10或11

解決方案

兼容性

功能

Basic

Essentials

Motion

Desktop

測量類型

3D

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內(nèi)含

部分內(nèi)含*

3D表面視圖、3D測量、3D輪廓測量、電動(dòng)Z軸堆棧/EFI、帶高度圖的即時(shí)EFI（需要編碼或電動(dòng)Z軸）。

自動(dòng)化

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內(nèi)含

自動(dòng)化解決方案（電動(dòng)/手動(dòng)/即時(shí)MIA、不帶高度圖的電動(dòng)/即時(shí)EFI，需要編碼或電動(dòng)XYZ軸），帶延時(shí)攝影功能。

焊縫測量

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焊縫測量解決方案（測量在焊接過程中因加熱而導(dǎo)致的幾何變形）。

計(jì)數(shù)和測量

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提供多種閾值分割法（自動(dòng)、手動(dòng)HSV，手動(dòng)和自適應(yīng)法）
該系統(tǒng)可自動(dòng)測量所有分割目標(biāo)的多個(gè)參數(shù)（面積、長寬比、等分寬、邊界框、重心、ID、質(zhì)心、強(qiáng)度值、凸度、直徑、伸長率、卡尺直徑、范圍、Z近鄰距離、方向、周長、半徑、形狀、球化率等）。
使用電子表格和圖表記錄單個(gè)和分布測量結(jié)果。

TruAI深度學(xué)習(xí)技術(shù)

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準(zhǔn)確、自動(dòng)化的圖像分割

解決方案

兼容性

輸出

Basic

Essentials/ Motion

Desktop

自動(dòng)報(bào)告創(chuàng)建

使用Workbook輸出單個(gè)測量結(jié)果

將所有結(jié)果存儲(chǔ)在圖像屬性中

截點(diǎn)法晶粒度

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面積法晶粒度

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非金屬夾雜物

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鑄鐵

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標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖對比

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層厚

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涂層厚度

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枝晶間距

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自動(dòng)測量

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分散能力

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孔隙率

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顆粒分布

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GJI相分析

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內(nèi)含

內(nèi)含

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解決方案

功能

測量類型

支持標(biāo)準(zhǔn)

多個(gè)載物臺(tái)位置*1
樣品對齊*1

截點(diǎn)法晶粒度

選擇圖案（圓圈、十字、十字和圓圈、垂直線，水平線、水平和垂直線）
定義檢測線的數(shù)量，以確定晶粒伸長率
在材料解決方案工具窗口中顯示G值

ASTM E112-13、ISO 643:2012、JIS G 0551:2013、JIS G 0552:1998、GOST 5639-82、GB/T 6394-2002、DIN 50601:1985、ASTM E1382-97(2015) 

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面積法晶粒度

自動(dòng)提取晶界
使用Stream滑塊進(jìn)行用戶互動(dòng)，提高了實(shí)用性
在“材料解決方案”中顯示G值直方圖和位置導(dǎo)航*1，以實(shí)現(xiàn)直接互動(dòng)

ASTM E112-13、ISO 643:2012、JIS G 0551:2013、JIS G 0552:1998、GOST 5639-82、GB/T 6394-2002、DIN 50601:1985、ASTM E1382-97(2015)

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非金屬夾雜物

使用顏色、形狀和尺寸自動(dòng)探測非金屬夾雜物
對氧化物、硫化物、硅酸鹽和鋁酸鹽進(jìn)行自動(dòng)分類

夾雜物Z惡劣視場：
測量每個(gè)視場中的Z惡劣夾雜物
實(shí)時(shí)顯示探測到的夾雜物及其評(píng)級(jí)

平均內(nèi)容：
借助電動(dòng)載物臺(tái)掃描整個(gè)樣品
對每個(gè)視場進(jìn)行夾雜物級(jí)評(píng)級(jí)操作
結(jié)果以表格形式出現(xiàn)，表明“每個(gè)嚴(yán)重級(jí)別的視場數(shù)量”。

ASTM E45-18（方式A）、DIN 50602:1985（方式M）、ISO 4967:2013（方式A）、GB/T 10561-2005（方式A，等同于ISO 4967）、JIS G 0555:2003（方式A，等同于ISO 4967）、UNI 3244:1980（方式M）、EN 10247:2017（方式P和M）、SEP 1571:2017（方式M和K）、ASTM E45-18（方式D）、ISO 4967:2013（方式B）、EN10247:2017（方式K）。

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鑄鐵

在拋光的樣品上：自動(dòng)測量石墨含量的特性（大小、形狀和分 布）
在蝕刻的樣品上：測量鐵素體與珠光體的比率
考慮到樣品狀態(tài)（蝕刻或拋光）的集成式工作流程

EN ISO 945-1:2018、ASTM A247-17、JIS G 5502:2001、KS D 4302:2006、GB/T 9441-2009、ISO 16112:2017、JIS G 5505:2013、NF A04-197:2017、ASTM E2567-16a（僅用于球化率）

標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖對比

可提供多種顯示，包括實(shí)時(shí)疊加
使用Stream滑塊進(jìn)行用戶互動(dòng)，提高了實(shí)用性
計(jì)算所選值的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)

ISO 643: 1983、ISO 643: 2012、ISO 945-1:2008、ASTM E 112: 2010、EN 10247: 2007、DIN 50602: 1985、SEP 1572: 1971、SEP 1520: 1998、ISO 4505:1978

層厚

可以使用自動(dòng)探測、魔杖或手動(dòng)模式來指定層的邊界（使用2個(gè)或3個(gè)點(diǎn)）
可在以后添加或刪除個(gè)別測量值
支持任何類型層（具有均勻或不均勻邊界）的測量
層厚測量計(jì)算平均值、Z大值和Z小值，以及每個(gè)單獨(dú)層的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。

涂層厚度

從俯視圖測量印痕
根據(jù)樣品的幾何形狀計(jì)算涂層厚度

EN 1071-2:2002、VDI 3824: 2001、ISO 26423:2016

枝晶間距

確定鑄造鋁合金的平均枝晶間距

自動(dòng)測量

自動(dòng)測量距離（點(diǎn)到點(diǎn)、點(diǎn)到線、圓到圓、點(diǎn)到圓、線到圓）
自動(dòng)測量圓的直徑（圓度，邊界框）
自動(dòng)測量兩條線之間的角度
為測量和視覺驗(yàn)證定義公差值
可獲得測量重復(fù)性的專家和用戶模式

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分散能力

對樣品上選出的感興趣點(diǎn)進(jìn)行手動(dòng)測量
由操作人員觸發(fā)的預(yù)先定義的點(diǎn)
選擇通孔類型，并對分析進(jìn)行記錄
制作報(bào)告，并根據(jù)手動(dòng)測量自動(dòng)計(jì)算

孔隙率

使用疊加功能根據(jù)ROI（感興趣區(qū)域）（三角形、圓形、矩形、多邊形或魔杖）探測氣孔
孔隙密度、計(jì)數(shù)和指定區(qū)域的測量
Z大孔隙的測量
指定尺寸范圍的測量

VW 50093/ P6093:2012、
VDG P201-2002、VDG P202-2010、
VDG P211-2010

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顆粒分布

使用簡化的閾值設(shè)置來定義顆粒。
根據(jù)所選參數(shù)（大小、顏色或形狀）自動(dòng)分類
測量ROI（感興趣區(qū)域）和多個(gè)閾值
根據(jù)用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)，對驗(yàn)證和編碼進(jìn)行定義

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GJI相分析

每個(gè)ROI（感興趣區(qū)域）（三角形，圓形、矩形或多邊形）的相分?jǐn)?shù)
還可以使用魔杖、手繪折線、插值多邊形、形態(tài)過濾器和圖像算術(shù)
根據(jù)相和ROI（感興趣區(qū)域），測量總的相百分比
可選擇的Z小面積檢測

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