EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量力求和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量力求實驗室的多功能解決方案

不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺選項-甚至是大型工業(yè)零部件樣品

使用LaB6燈絲，能夠得到更優(yōu)的圖像質(zhì)量

對不導(dǎo)電和無導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色

可以配置多種分析探測器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求

蔡司電鏡|EVO系列掃描電子顯微鏡特點：

=便捷的可用性

SmartSEM Touch可以通過使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡單易學(xué)， 大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本，甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。

=優(yōu)的圖像質(zhì)量

EVO 擅長于對未經(jīng)處理和沒有導(dǎo)電涂層的樣品獲取的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài)， 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時，選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對比度和信噪比。

=EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

EVO可以作為半自動、多模式工作流程的一部分，通過重新定位感興趣區(qū)域，并以多種方式收集數(shù)據(jù)，形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來進(jìn)行材料表征或零件檢驗，或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián)，進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。

蔡司電鏡|EVO系列掃描電子顯微鏡真空室尺寸選擇:

蔡司電鏡|EVO系列掃描電子顯微鏡應(yīng)用示例：

=電子行業(yè)：

·目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽能電池

·銅絲表面及晶體結(jié)構(gòu)的研究

·金屬腐蝕研究    

·斷面失效分析

·Wire bonding線腳檢查

·電容表面成像

=金屬行業(yè)：

·對金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)和結(jié)晶學(xué)進(jìn)行成像和分析

·相、顆粒、焊縫和失效分析

=加工企業(yè)：

·質(zhì)量分析/質(zhì)量控制

·失效分析/金相分析

·清潔度檢查

·顆粒的形態(tài)和化學(xué)分析， 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標(biāo)準(zhǔn)

·非金屬夾雜物的分析

=原材料：

·地質(zhì)樣品的形態(tài)、礦物學(xué)和成分分析

·對金屬、斷裂和非金屬夾雜物的結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像和分析

·微粉化和造粒過程中原料化學(xué)成分和活性成份的形態(tài)和成分分析

=材料科學(xué)研究

·用于研究導(dǎo)電和不導(dǎo)電材料樣品的特征