布魯克宣布推出新的D8 DISCOVER Plus TM X射線衍射（XRD）解決方案

    2019年9月4日 - 在日本分析科學(xué)儀器展（JASIS）上，布魯克宣布推出新的D8 DISCOVER Plus TM X射線衍射（XRD）解決方案，其中包括新的非共面手臂和MONTEL加上TM X射線光學(xué)系統(tǒng)。

    新的非共面臂使D8 DISCOVER Plus能夠以高精度和易用性進(jìn)行面內(nèi)衍射測(cè)量。結(jié)合ATLAS TM測(cè)角儀的自動(dòng)扭矩控制TM技術(shù)，非共面臂為面內(nèi)衍射設(shè)定了新的基準(zhǔn)。有關(guān)的超薄層成功面內(nèi)衍射，成功的關(guān)鍵是一個(gè)高度并行和強(qiáng)烈的X射線束，這是由獨(dú)特的布魯克IμS提供TM與新的X射線源MONTEL加光學(xué)器件。在D8 DISCOVER加用非共面臂和MONTEL Plus光學(xué)系統(tǒng)可將測(cè)量強(qiáng)度提高一個(gè)數(shù)量級(jí)，從而獲得更佳數(shù)據(jù)質(zhì)量，從而獲得對(duì)結(jié)構(gòu)特性的新見(jiàn)解。

    在D8 DISCOVER另外還配備了新的X射線檢測(cè)技術(shù)，包括LYNXEYE XE-T ，高可用能量分辨率條探測(cè)器，或?qū)е露嗄Ｊ交旌瞎庾佑?jì)數(shù)（HPC）檢測(cè)市場(chǎng)EIGER2 [R 500K，既為材料研究中的各種分析任務(wù)提供佳的功能。

在D8 DISCOVER加上提供與其他D8系列組件的兼容性。它具有DIFFRAC.DAVINCI用于實(shí)時(shí)組件識(shí)別，以及DIFFRAC.SNAP-LOCK，無(wú)需工具即可無(wú)需對(duì)齊地更換系統(tǒng)子單元。

    “隨著新型D8 DISCOVER Plus X射線衍射解決方案與非共面臂和MONTEL Plus光學(xué)系統(tǒng)的推出，布魯克再次在XRD儀器中設(shè)立標(biāo)準(zhǔn)。在D8 DISCOVER加上被設(shè)計(jì)成在寬范圍的結(jié)構(gòu)分析中的應(yīng)用從粉末在制藥工業(yè)中，以結(jié)晶在薄層器件結(jié)構(gòu)提供高精確度的結(jié)果，對(duì)于所有種類(lèi)的材料，”陳述馬丁齊默爾曼博士Bruker' XRD薄膜解決方案的產(chǎn)品經(jīng)理。